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关于华岭

公司新闻|Company News

关于2018年上海市科学技术奖推荐项目的公示

根据《关于开展2018年度上海市科学技术奖推荐工作的通知》(沪【2018】98号)文件的要求,现将我公司申报2018年度上海市科学技术奖项目的基本信息予以公示。公示期为2018年4月28日至2018年5月4日。
公示期内,如任何单位或个人对公布的内容持有异议,请以书面形式实名(注明通讯地址和联系方式)向本公司提出,并提供必要的证据材料,以便于核实查证。单位提出异议时,应当在异议材料上加盖本单位公章;个人提出异议时,应当在异议材料上签署本人真实姓名,我公司对异议人身份和反映情况予以保密。凡匿名、冒名和超出期限的异议不予受理。
联系人:罗斌
电话:021-50278215-374
通讯地址:上海浦东新区郭守敬路351号2号楼2楼
邮编:201203
 
 
上海华岭集成电路技术股份有限公司
二零一八年四月二十八日
 
 
 
 
推荐项目基本情况
一、项目名称:28nm集成电路芯片先进测试技术研究及平台建设
二、项目简介:为推动我国集成电路制造产业的发展,提升我国集成电路制造装备、工艺及材料技术的自主创新能力,根据“极大规模集成电路制造装备及成套工艺”国家科技重大专项指南,公司立项开展拥有我国自主知识产权的28nm集成电路芯片先进测试技术研究及平台建设,通过研发先进的测试技术,形成封装与测试一体化的服务能力,满足国内自主产品28nm先进工艺的测试需求。
1、重大技术创新简介
项目围绕国际集成电路产品发展趋势,针对国内集成电路产品测试技术升级,研发了基于28nm 集成电路芯片先进测试技术平台的融合创新架构技术、软硬件融合协同测试技术、RFIC 芯片测试技术、高端SoC 嵌入式典型IP 功能模块测试技术、千万门级FPGA 测试算法技术等关键技术,利用大数据挖掘分析,构建多学科技术融合、物联网测试应用及智能软硬件融合测试的智能测试中心,实现国内集成电路测试产业的自主可控,完成28nm 集成电路芯片测试公共服务平台。重大技术创新如下:
三大突破性技术革新:
(1)    基于28nm 集成电路芯片先进测试技术平台的融合创新架构技术;
(2)    基于“芯-端-云”架构的互联网+集成电路测试技术;采用结构测试技术实现“瞬时”故障捕获;
(3)    突破高端集成电路芯片测试技术,完成建立高端集成电路测试公共服务平台。
关键技术创新:
(1)    构架于国际先进装备之上的融合创新测试技术体系;
(2)    软硬件协同测试技术;
(3)    芯片远程人机互动创新测试技术;
(4)    核心芯片比测解决方案;
(5)    高端SoC 应用处理器测试技术;
(6)    12GHz超高速RFIC 芯片全自动产业化测试。
关键技术指标:
(1)   在28nm领域率先完成了:构架于国际先进装备之上的融合创新测试技术体系,基于STIL Bridge的接口软件和多平台测试接口硬件设计,实现多平台的Smart Link Kit软硬件融合的测试技术服务;
(2)   建立了比测方法体系和比测评价环境,为核心芯片提供全温区( -55℃~125℃ )的功能性能比测方案;
(3)   完成MEMS prober、DD prober等适应先进工艺产品测试工程技术,实现>4300 pins高密度微间距探针系统测试,多套平台晶圆级高速芯片量产比对,并实现稳定量产。
(4)   完成建立的12英寸、28nm集成电路的测试技术开发平台,支持16Gbps数字速率,混合模块,射频收发24ports。
(5)   突破了12GHz 超高速RFIC 芯片全自动产业化测试技术,提供测试评价、稳定性监控等全自动产业化测试解决方案。
2、技术应用情况
利用该项目研发的科研成果和测试平台建立了面向军用和民用的测试实验室,获得CNAS 资格证书、CMA计量认证以及国家保密资质、武器装备承制单位认证;同时,有效支持了01、02 专项及其他政府部门相关项目的测试和验收工作;平台纳入了上海市集成电路公共服务平台系统,实现了资源开放共享,连续六年获得“上海市大型科学仪器设施共享服务先进集体”称号。
项目研发技术成熟,完成建立的12英寸、28nm集成电路的测试技术开发平台,每年为70多家100多项产品提供芯片测试验证分析和产业化生产测试服务,年产能超过20万片,每年测试年产量达到4亿颗。凭借本项目的研发及建设平台的应用
三、知识产权情况

国别
知识产权类别
授权号
名称
中国
授权发明专利
ZL201210236898.3
用于无时钟电路的标签芯片的测试方法及测试装置
中国
授权发明专利
ZL201210402378.5
探针卡平整度检测方法
中国
授权发明专利
ZL201310573298.0
提升平整度和绝缘性的探针卡
中国
授权发明专利
ZL201310597669.9
接口转换检测装置及接口检测方法
中国
授权发明专利
ZL201210413616.2
集成电路测试系统及测试方法
中国
授权发明专利
ZL201310574106.8
芯片测试系统及芯片测试方法
中国
授权发明专利
ZL201310163077.6
多模块平行测试系统
中国
计算机软件著作
2012SR068157
华岭串行通信控制器芯片测试软件
中国
计算机软件著作
2012SR068158
华岭加密移动存储控制SOC芯片测试软件
中国
计算机软件著作
2012SR074209
华岭嵌入式微处理器信息安全芯片测试软件
中国
计算机软件著作
2013SR014739
华岭高性能调制解调器芯片测试软件
中国
计算机软件著作
2013SR022645
华岭PCM编解码芯片测试软件
中国
计算机软件著作
2013SR008030
华岭并行测试效率评估优化软件
中国
计算机软件著作
2013SR018459
华岭测试流程全自动调整软件
中国
计算机软件著作
2013SR052397
华岭全自动测试数据统计及测试判据优化软件
中国
计算机软件著作
2014SR116912
华岭云测试客户端软件
中国
计算机软件著作
2014SR137819
华岭EDA文件到ATE测试矢量自动转换软件
中国
计算机软件著作
2014SR117856
华岭ERP高柔性信息管理软件
中国
计算机软件著作
2015SR132237
华岭晶圆测试MAP图整合分析工具软件
中国
计算机软件著作
2015SR136447
华岭凸点晶圆测试MAP图转换合成软件
中国
计算机软件著作
2015SR189476
华岭高集成度模拟输出CMOS图像传感芯片测试软件
中国
计算机软件著作
2015SR190694
华岭移动通信RFSoC芯片测试软件
中国
计算机软件著作
2016SR093909
华岭基于自主设计光源系统的图像传感器测试软件

四、主要完成单位:上海华岭集成电路技术股份有限公司
五、主要完成人:张志勇、刘远华、叶守银、汤雪飞、祁建华、王锦、罗斌、余琨、牛勇、王玉龙
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